IC-CAP 器件建模软件――测量控制和参数提取

集成电路表征和分析程序（IC-CAP）是进行直流和射频半导体器件建模的工业标准。IC-CAP 能够提取高速/数字、模拟和功率射频应用软件中所使用的精确而紧凑的模型。当前，大多数领先的半导体制造商和集成器件制造商（IDM）都是采用 IC-CAP对芯片 CMOS、Bipolar、混合砷化镓（GaAs）、氮化镓（GaN）以及其他器件技术进行建模。IC-CAP 是一种最先进的可定制建模软件，并包括测量、仿真、优化和统计分析工具。

IC-CAP 的主要优势

• 开放式软件体系结构可提供最高的精度和灵活性，可生成并自动执行测量、提取和验证程序
• 针对工业标准 CMOS 模型（例如 BSIM3/BSIM4、PSP 和 HiSIM）的成套提取解决方案，可最大程度地缩短学习过程，提升模型精度
• 到达商用仿真器的大部分直接链接可确保所提取的模型与电路设计人员使用的仿真器模型保持一致

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