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爱德万测试发表全新低成本高速存储器测试系统

2015-12-27

核心提示:半导体测试设备领导者爱德万测试(Advantest)全新发表专为高效能通用快闪储存(UFS)元件与PCIe BGA固态硬碟(SSD)所设计的低成本测
 半导体测试设备领导者爱德万测试(Advantest)全新发表专为高效能通用快闪储存(UFS)元件与PCIe BGA固态硬碟(SSD)所设计的低成本测试解决方案T5851系统,将可满足智慧型手机、平板电脑、超可携式产品等低功耗、行动应用市场对于记忆体IC的强劲需求。


T5851测试系统分别提供了量产机型与工程开发机型,让客户可随需弹性运用于可靠性测试、品质检验测试、测试程式开发测试等用途,也能在搭载自动化元件分类机(如爱德万测试的M6242分类机)的架构下,应用于量产环境。T5851是一套完全整合式的系统层级测试解决方案,不仅提供多种协定支援,且具备tester-per-DUT架构与专有的硬体加速器,使测试时间领先业界。
 

T5851经实证的测试架构,与旗下固态硬碟测试解决方案MPT3000产品系列一致,并采用与T5800系列产品相同的多功能平台与FutureSuite软体,可让客户降低降低投资成本与建置风险。此外,其系统设定及效能可随任何待测物调整而达到最佳表现,同时提供模组化升级能力,以提升客户未来的投资报酬。

此系统可随需延展的大电流可编程电源(PPS)支援,能满足所有不同电流与下一代元件的需求,加上其稳健模组设计与水冷功能,为T5851创造出绝佳可靠性。爱德万测试执行董事山田弘益表示:“低功耗行动电子产品的趋势,带动了高阶储存解决方案的需求,由于这些储存产品采用高速省电的序列介面与高效能储存协定,记忆体IC制造商需要与过去不同等级的测试系统,不但要专为这类元件的系统层级测试制程所设计,还须兼具一般记忆体测试系统所拥有的可靠性、低成本、支援大量测试的能力,而这些要求,T5851全都能满足。”

 

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