日期:2014-01-16~2014-01-16
城市:杭州市
地址:江干区钱潮路20号
展馆:杭州钱江新城假日酒店
主办:美国国家仪器

姓名:会务组
电话:021-6555 6244

尊敬的工程师们，NI第七届图形化嵌入式系统设计巡回研讨会正式拉开帷幕，2013年将在西安、上海、北京、深圳等17个城市巡回举办，在此我们诚邀您的参与！

本次讲座将全面介绍如何利用图形化系统设计方法加速定制嵌入式测控系统。并给您带来NI嵌入式平台在各领域的典型应用，如能源电力、机器状态监测、结构健康监测、机器视觉、运动控制、分布式测控及同步技术，并将从浅入深介绍如何快速上手NI嵌入式系统开发。

 

背景介绍：

现在嵌入式系统已经被广泛应用于工业领域。由于嵌入式系统的需求日益多样化以及传统嵌入式系统开发工具链的分散化、复杂化，这使得搭建一个集高级测量和高级控制于一体的嵌入式系统面临很大的困难。

为了应对这个挑战，NI 为工程师和科学家提供了图形化的系统设计工具，用于开发下一代控制与监测系统。利用NI 可重配置 I/O  (RIO) 硬件(采用了嵌入式现场可编程门阵列FPGA 技术)和NI LabVIEW 图形化系统设计软件，小型设计团队即可快速构建系统原型，更快地部署嵌入式控制与监测系统。

NI嵌入式平台具有高性能浮点处理器、可重配置FPGA以及模块化I/O的RIO架构，通过图形化系统设计方法可进行硬件定制并集成自定义定时、信号处理和高速控制能力，大大简化开发难度。

 

专题演讲精彩内容预览：

影响嵌入式系统设计的关键技术和开发方法

当前状态监测的发展趋势及挑战

嵌入式运动控制系统的虚拟原型技术介绍及机器视觉选项指南

快速实现高通道数分布测控及同步技术

电力电子仿真与控制技术介绍及NI 在电能质量监测方面的测量精度及优势

基于CompactRIO的结构健康监测系统的典型应用案例分享

LabVIEW 图形化设计方式下如何快速实现FPGA开发

*会议现场以实际演讲主题为准