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LabVIEW对芯片性能进行测试,芯片返回数据为0.1秒周期信号,一个周期内有两个相同脉宽的方波。随时间变化方波脉宽逐渐减小增大。如何求得脉宽变化趋势?
日期:2014-01-19 13:09  点击:121
状态:已解决
提问:admin
最佳答案
  回答=没有直接测量脉宽的VI,所以使用for循环自动索引对每个数据处理,通过移位寄存器返回得前次数据和本次数据,判断出上升沿和下降沿,并得到对应的index,通过index相减得到脉宽。将所有脉宽组成数组可以求得变化趋势。
回答:pansino
2014-01-11 12:40

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