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目前傳統 IC Tester 多以pattern為基礎，測試I2C介面，處理 16 個或更多 site 之平行測試就變得沒效率且困難。
使用能高新推出之QSPI 模組來建構新的方案。 QSPI高密度集結於一片3U PXI卡內，運用其4個site 測試，具備的 I2C/SPI 硬體模式，可程式速度，達成高效率。 另外， 搭配5槽的機箱，內插4片QSPI，就可達成16個site平行測試 ，數位模式測試，內建PMU 亦可以執行 DC測量，搭配使用能高開發的MTS3開放式測試軟體平台裡的Multi -site選項，軟/硬體配合，建構出整合性的系統，成為更省錢方案。
www.openate.com/qspi.htm
