本场研讨会，NI资深工程师将结合实际案例与您探讨构建完整数据采集系统时必须考虑的关键因素，此外还将与您分享提高测量精度的七大技巧，数据采集技术的趋势展望及构建高通道数测试测量系统的方法*。结合生动有效的应用演示，让您全面受益，确保您测试测量应用的成功！
*注: 根据各地区所选Module不同, 所对应的介绍随之不同。

1. 统一的软硬件平台，可以连接任意传感器，选择任意总线，实现
    任意测量。
2. 高精度、高性能的数据采集(DAQ)硬件和高效、灵活的LabVIEW 
    图形化开发环境，快速、轻松实现任意测量
3. 随着光纤传感、FPGA技术等新技术的引入，NI将继续引领测试测
    量行业的进一步革新。
4. 帮助客户解决如何构建完整的数据采集系统、提供测量精度和降低
   测量噪声等关心的问题。