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2015 NI自动化测试系统技术研讨会

2015-08-24

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展会日期 2015-10-01 至 2015-12-31
展出城市 全国巡回
展出地址 请见网站上面公布的地址
展馆名称 请见网站
主办单位 美国国家仪器
官方网站 http://ni.v-testing.com/

展会说明


尊敬的工程师:
    2015NI PXITAC技术分会来到您身边。NI作为自动化测试及PXI技术的领导者,提出了以软件为中心的模块化解决方案。本次分会,NI资深工程师将与您面对面探讨自动化测试系统的参考设计架构,分享构建新一代自动化测试系统所需的技术。
    PXITAC作为中国地区规模最大、最具影响力的专业论坛已陪伴客户走过了风雨11年,我们希望通过分会的成功举办,为您抢先同步论坛上即将发布的最新资讯和技术亮点!
 
研讨会议程:(14:00-17:00)
• 主题演讲:基于PXI平台构建科研领域的自动化测控系统
• 技术讲座1:国防与航天航空中的射频与微波应用
• 技术讲座2:NI射频平台在科研领域的应用
• 技术讲座3:软件设计的仪器
• 技术讲座4:实时测试与硬件在环技术研析
• 技术讲座5:基于FPGA的自定义仪器设计
• 技术讲座6:PXI的定时与同步技术详解
• 技术讲座7:仪器使用技巧
* 注:根据地区不同,研讨会内容将略有调整。
DEMO演示
现场答疑与抽奖环节
 
研讨会简介:
• 随着技术的快速发展,合成仪器与混合总线系统已成为科研领域应用中主流的测控系统构建方式。
• 应用中主流的测控系统构建方式。业界标准的PXI平台不但可兼容GPIB、LAN、VXI等总线与平台,而且PXI所采用的模块化架构进一步增强了系统的可维护性。
• 通过选择多种具有不同功能与指标的PXI模块,科研人员可自定义系统功能,满足前沿应用需求。
• 作为测控行业的领导者,NI不但致力于推动PXI标准的发展,提供各种PXI产品与模块,而且NI还提供了能够加速构建测控系统的的各种软件工具。


联系方式
联系人:项目组
电话:
 

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